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简要描述:半导体可靠性测试高低温试验箱,简称高低温试验箱,用于商品集成电路、微处理器、二极管、温度传感器、芯片等半导体产品可靠性环境测试,用于测试和确定产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
详细介绍
品牌 | 高天/Gaotian | 产地 | 国产 |
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加工定制 | 是 |
一、半导体可靠性测试高低温试验箱作用
适用半导体产品零部件及材料在高温、低温(交变)循环变化的情况下,检验其可靠性各项性能指标的检测设备。高温时可测试产品零件、材料可能发生软化、效能降低、特性改变、潜在破坏、氧化等现象(如:填充物和密封条软化或融化、电子电路稳定性下降,绝缘损坏、加速高分子材料和绝缘材料老化等);在低温时可测试产品零件、材料可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象(如:材料发硬变脆、电子元器件性能发生变化、水冷凝结冰、材料收缩造成机械结构变化等)。
二、半导体可靠性测试高低温试验箱主要参数
温度显示精度:0.1℃
温度范围:室温0℃~150℃/-20℃~150℃/-40℃~150℃/-70℃~150℃/
升温速度:平均3.0℃/分
降温速率:平均1℃/分
湿度范围:30~98% R.H
温度解析度:±0.1℃
三、关于高天
湖北高天试验设备有限公司是一家集试验室设备、仪器和耐气候环境试验设备的研发、生产和安装于一体的生产与销售公司。我们在不断开拓新的技术点,解决客户工艺生产难题,设计提供适合且有效的产品,积极推广新进的高科技产品,逐步取代落后的老设备,提高用户生产效率,为客户创造产能价值。高天欢迎各位莅临参观交流!
四、产品细节
高低温试验箱的每个细节都经过精心雕琢,彰显出优质的品质。
五、高低温试验箱结构设计
1. 内外箱材质测试区内箱镜面不锈钢板 ( SUS # 304 ),外箱SUS#304不锈钢板。
2. 外 箱 灯 源 高亮度照明灯 ( 欧司朗 或 飞利浦 13 W PL灯 )
3. 同温层结构设计:有效避免箱体顶部凝结。
4. 观 测 视 窗:观察试品使用 ( W*L 28 * 35 cm )
5. 窗口防汗设计:采电热器装置,防止水气凝结 ( 40 W )
6. 测 试 孔:可外接测试电源线及信号用 ( 5.0 cm )
7. 机 台 滑 轮 采滑轮移动调整摆放位置与强力螺栓固定位置(200Kg / 轮 )
8. 保 温 层:保温绝缘层耐燃防火 PU + 隔热bo璃棉(保温层厚 10.0 cm)
9. 箱 内 盘 架:可活动调整栅盘架与不锈钢条状栅盘二只(盘架每间格 5.0 cm)
10. 箱 门:采双道隔热气密迫紧,有效隔绝外部温度泄漏
六、高低温试验箱安全注意事项
1、为保证设备及试验的安全,请安装外部保护接地,并按设备铭牌要求供给电源;
2、设备严禁用于易燃易爆、有毒、强腐蚀物品的试验;
3、非专业人员不得拆卸、维修;
4、设备应有可靠接地;
5、试验中除非必要请勿打开箱门或进入箱内,否则可能引起人身伤害以及设备误动作;
6、设备箱门门锁仅能从外部打开,进入箱内必须有人监护;
7、如果箱内放入发热试样,试样请使用外加电源,不要直接使用设备本身电源;
8、设备设有多种保护措施,请定期检查;
9、箱体内温度≥55℃时,请勿打开制冷压缩机,以保证压缩机长寿命正常的运行;
10、有制冷功能的产品搬运时倾角不得大于45℃,放置到位后,应静放1~2天再开机,有利于制冷系统能正常工作并延长寿命;
11、切勿重力开启/闭合产品箱门,否则易导致箱门脱落,造成产品损坏,产生伤害事故;
12、产品长时间停止使用时,应定期做驱除潮气处理,避免损坏有关器件;
13、产品在搬运时,应小心注意避免损坏面板上的仪表等易损零部件;
14、详细阅读本设备所附文件后,方可操作本设备;
15、本试验箱无防爆装置,不得放入易燃易爆物品干燥
16、在操作当中,除非有必要,请不要打开箱门,否则可能引起人身伤害以及设备误动作。 高低温汽冲出箱外十分危险 箱门内侧仍然保持高温造成烫
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