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rohs检测仪ROHS荧光光谱仪工厂

简要描述:rohs检测仪ROHS荧光光谱仪工厂,ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。

  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新日期:2024-02-21
  • 访  问  量: 4721

详细介绍

品牌高天/Gaotian产地国产
加工定制

rohs检测仪ROHS荧光光谱仪工厂,ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。

应用领域:RoHS检测分析(电子电器、塑胶塑料、涂料油墨、通讯线缆、手机配件、胶粘制品、皮革纺织、儿童玩具等)

仪器的保养和清洁

1、表面与外壳的清洁。仪器可用微湿的抹布进行表面清洁,不可用碱性或酸性清洁剂,应使用中性清洁剂

2、内部与探测器的清洁,在清洁过程中,必须注意不要将异物掉入测试窗口中,测试窗口应该保持清洁,同时不能使用硬物接触测试窗口内,防止损伤探测器窗口和X光管窗口。(探测器窗口和X光管窗口损坏将不予保修,并且更换价格昂贵。因此,在清洁和使用中一定要小心爱护)。

3、开合盖子需要注意什么问题仪器上禁止摆放茶杯,重物等与测试无关的物品,以免污染或损伤仪器。

工作原理:

X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等,而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件,相对简单。

波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:

nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)

式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特征信息。

能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:

Q=kE

式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。

待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。

为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。

rohs检测仪ROHS荧光光谱仪工厂,高天试验设备有限公司专业生产rohs检测仪ROHS荧光光谱仪,欢迎来厂参观视察。

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